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TRANSISTOR STRUCTURES HAVING REDUCED ELECTRICAL FIELD AT THE GATE OXIDE AND METHODS FOR MAKING SAME

机译:在栅极氧化层上具有减小的电场的晶体管结构及其制造方法

摘要

A transistor device having reduced electrical field at the gate oxide interface is disclosed. In one embodiment, the transistor device comprises a gate, a source, and a drain, wherein the gate is at least partially in contact with a gate oxide. The transistor device has a P+ region within a JFET region of the transistor device in order to reduce an electrical field on the gate oxide.
机译:公开了一种在栅极氧化物界面处具有减小的电场的晶体管器件。在一个实施例中,该晶体管器件包括栅极,源极和漏极,其中该栅极至少部分地与栅极氧化物接触。晶体管装置在晶体管装置的JFET区域内具有P +区域,以便减小栅极氧化物上的电场。

著录项

  • 公开/公告号US2017053987A1

    专利类型

  • 公开/公告日2017-02-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CREE INC.;

    申请/专利号US201615344735

  • 发明设计人 QINGCHUN ZHANG;BRETT HULL;

    申请日2016-11-07

  • 分类号H01L29/16;H01L29/08;H01L29/78;H01L29/66;H01L29/739;H01L29/749;H01L29/06;H01L29/10;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 13:49:38

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