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Ti-Ta ALLOY SPUTTERING TARGET AND PRODUCTION METHOD THEREFOR

机译:Ti-Ta合金溅射靶及其制备方法

摘要

A Ti—Ta alloy sputtering target containing 0.1 to 30 at % of Ta, and remainder being Ti and unavoidable impurities, wherein the Ti—Ta alloy sputtering target has an oxygen content of 400 wtppm or less. The present invention has a favorable surface texture with a low oxygen content and is readily processable due to its low hardness, and therefore the present invention yields a superior effect of being able to suppress the generation of particles during sputtering.
机译:含有0.1〜30原子%的Ta,其余为Ti和不可避免的杂质的Ti-Ta合金溅射靶,其中,所述Ti-Ta合金溅射靶的氧含量为400重量ppm以下。本发明具有低氧含量的良好的表面质地,并且由于其低硬度而易于加工,因此本发明产生了能够抑制溅射期间的颗粒产生的优异效果。

著录项

  • 公开/公告号US2018305805A1

    专利类型

  • 公开/公告日2018-10-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 JX NIPPON MINING & METALS CORPORATION;

    申请/专利号US201715771114

  • 发明设计人 KUNIHIRO ODA;CHISAKA MIYATA;

    申请日2017-03-23

  • 分类号C23C14/34;C22C27/02;C22C14;C22C1/02;B22D7;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 13:00:21

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