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SiC Wide trench type SiC Junction barrier schottky diode and method of manufacturing the same

机译:SiC宽沟槽型SiC结势垒肖特基二极管及其制造方法

摘要

According to an aspect of the present invention, provided is a method for producing a SiC wide trench-type junction barrier Schottky diode. The method comprises the steps of: forming a SiC N-epitaxial layer; forming a trench which is concave downward; forming an oxide film mask; forming a P+ junction pattern; performing a primary annealing process; forming a Schottky metal layer; and performing a secondary annealing process.
机译:根据本发明的一个方面,提供了一种用于制造SiC宽沟槽型结势垒肖特基二极管的方法。该方法包括以下步骤:形成SiC N外延层;以及形成向下凹的沟槽。形成氧化膜掩模;形成P +结图案;执行初步退火工艺;形成肖特基金属层;并进行二次退火工艺。

著录项

  • 公开/公告号KR101802410B1

    专利类型

  • 公开/公告日2017-11-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 POWER CUBESEMI INC.;

    申请/专利号KR20160101891

  • 发明设计人 KYOUNG SIN SU;KANG TAE YOUNG;

    申请日2016-08-10

  • 分类号H01L29/872;H01L21/02;H01L29/06;H01L29/24;H01L29/66;H01L29/861;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 12:41:34

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