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- Structures and devices including germanium-tin films and methods of forming same

机译:-包括锗锡膜的结构和装置及其形成方法

摘要

Methods of forming germanium-tin films using germanium as a precursor are disclosed. Exemplary methods include a step of growing films including germanium and tin in an epitaxial chemical vapor deposition reactor. The ratio of tin precursor to germanium is less than 0.1. Structures and elements including germanium-tin films formed using the methods described in the present invention are also disclosed. It is possible to provide improved processes for forming crystalline films including GeSn.
机译:公开了使用锗作为前体形成锗-锡膜的方法。示例性方法包括在外延化学气相沉积反应器中生长包含锗和锡的膜的步骤。锡前体与锗的比例小于0.1。还公开了使用本发明中描述的方法形成的包括锗锡膜的结构和元素。可以提供用于形成包括GeSn的晶体膜的改进工艺。

著录项

  • 公开/公告号KR20180005628A

    专利类型

  • 公开/公告日2018-01-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ASM IP HOLDING B.V.;

    申请/专利号KR20170086083

  • 发明设计人 TOLLE JOHN;

    申请日2017-07-06

  • 分类号H01L21/02;H01L21/324;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 12:41:15

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