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Brief description of the formation of transistors pdsoi and fdsoi on a same substrate.

机译:在同一衬底上形成晶体管pdsoi和fdsoi的简要说明。

摘要

The present invention relates to a method for forming an electronic device intended to accommodate at least one fully depleted transistor of the FDSOI type and at least one partially depleted transistor of the PDSOI type, from a stack of layers (10) comprising at least one insulating layer (100) topped with at least one active layer (200) made of a semiconductor material, the method comprising at least one step of dry etching and one step of height adjustment between at least two etched elements.
机译:本发明涉及一种用于从包括至少一个绝缘体的层(10)的堆叠中形成用于容纳至少一个FDSOI型的完全耗尽型晶体管和至少一个PDSOI型的部分耗尽型晶体管的电子器件的方法。层(100)上覆盖有至少一个由半导体材料制成的有源层(200),该方法包括干法蚀刻的至少一个步骤和至少两个蚀刻元件之间的高度调节的一个步骤。

著录项

  • 公开/公告号FR3051973B1

    专利类型

  • 公开/公告日2018-10-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ALTIS SEMICONDUCTOR;

    申请/专利号FR20160054651

  • 申请日2016-05-24

  • 分类号H01L21/8232;H01L29/772;H01L27/085;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-21 12:33:07

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