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机译:扫描探针显微镜及测量局部势场的方法
公开/公告号JP6596096B2
专利类型
公开/公告日2019-10-23
原文格式PDF
申请/专利权人 フォルシュングスツェントルム・ユーリッヒ・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング;
申请/专利号JP20170542054
发明设计人 タウツ・フランク・シュテファン;テミロフ・ルスラン;ヴァーグナー・クリスティアン;グリーン・マシュー・フェリックス・ブリシェン;
申请日2016-01-18
分类号G01Q60/24;G01Q60/42;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 12:21:40
机译: 扫描探针显微镜及测量局部电位场的方法
机译: 扫描探针显微镜和测量局部电势的方法