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Method for determining misalignment of shape measuring device, method for adjusting shape measuring device, program for determining misalignment of shape measuring device, and shape measuring device

机译:用于确定形状测量装置的不对准的方法,用于调整形状测量装置的方法,用于确定形状测量装置的不对准的程序和形状测量装置

摘要

A calibration gauge having plane symmetry is set in a position other than a rotation center of a rotary table. The calibration gauge is measured while the rotary table is driven to rotate. Offset of a measurement axis is determined based on a phase pattern of the rotary table when a stylus head detects the calibration gauge.
机译:具有平面对称性的校准量规被设置在旋转台的旋转中心以外的位置。在旋转工作台旋转的同时测量校准量规。当测针头检测到校准量规时,根据转台的相位模式确定测量轴的偏移量。

著录项

  • 公开/公告号JP6537852B2

    专利类型

  • 公开/公告日2019-07-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社ミツトヨ;

    申请/专利号JP20150045978

  • 发明设计人 安野 円;

    申请日2015-03-09

  • 分类号G01B5;G01B5/20;G01B21/20;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 12:20:08

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