首页> 外国专利> Teeter-totter type MEMS accelerometer with electrodes on circuit wafer

Teeter-totter type MEMS accelerometer with electrodes on circuit wafer

机译:在电路晶片上带有电极的跷跷板型MEMS加速度计

摘要

In a teeter-totter type MEMS accelerometer, the teeter-totter proof mass and the bottom set of electrodes (i.e., underlying the proof mass) are formed on a device wafer, while the top set of electrodes (i.e., overlying the teeter-totter proof mass) are formed on a circuit wafer that is bonded to the device wafer such that the top set of electrodes overlie the teeter-totter proof mass. The electrodes formed on the circuit wafer may be formed from an upper metallization layer on the circuit wafer, which also may be used to form various electrical connections and/or bond pads.
机译:在跷跷板型MEMS加速度计中,跷跷板检测质量和底部电极组(即检测质量下方)形成在设备晶圆上,而顶部电极组(即覆盖在跷跷板上)检验质量)形成在结合到器件晶圆上的电路晶圆上,使得顶部电极组覆盖跷跷板检验质量。形成在电路晶片上的电极可以由电路晶片上的上金属化层形成,该上金属化层也可以用于形成各种电连接和/或焊盘。

著录项

  • 公开/公告号US10371714B2

    专利类型

  • 公开/公告日2019-08-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 YU-TSUN CHIEN;

    申请/专利号US201213523101

  • 发明设计人 YU-TSUN CHIEN;

    申请日2012-06-14

  • 分类号G01P15/125;G01P15/08;B81C1;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:14:10

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号