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METHODS AND APPARATUS FOR ANTI-ECLIPSE CIRCUIT VERIFICATION

机译:防蚀电路验证的方法和装置

摘要

Various embodiments of the present technology may comprise a method and apparatus for anti-eclipse circuit verification. According to various embodiments, the image sensor is configured to test and/or determine the functionality of the anti-eclipse circuit. In various embodiments, the anti-eclipse circuit may employ redundant circuits and/or devices. In a case where a circuit fault is detected, the image sensor generates an error signal.
机译:本技术的各种实施例可以包括用于抗日蚀电路验证的方法和装置。根据各种实施例,图像传感器被配置为测试和/或确定抗蚀电路的功能。在各种实施例中,抗蚀电路可以采用冗余电路和/或设备。在检测到电路故障的情况下,图像传感器生成错误信号。

著录项

  • 公开/公告号US2019253646A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-08-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SEMICONDUCTOR COMPONENTS INDUSTRIES LLC;

    申请/专利号US201815895354

  • 发明设计人 RICHARD SCOTT JOHNSON;

    申请日2018-02-13

  • 分类号H04N5/359;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:09:57

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