首页> 外国专利> Methods and Devices for Detecting Open and/or Shorts Circuits in MEMS Micro-Mirror Devices

Methods and Devices for Detecting Open and/or Shorts Circuits in MEMS Micro-Mirror Devices

机译：用于检测MEMS微镜器件中的开路和/或短路的方法和设备

页面导航

摘要
著录项
相似文献

摘要

According to the present invention there is provided methods and devices for detecting open and/or short circuits in MEMS micro-mirror devices, which use relative comparisons of voltage levels within the MEMS micro-mirror devices for detecting the occurrence of open and/or short circuits.

机译：根据本发明，提供了用于检测MEMS微镜装置中的开路和/或短路的方法和装置，其使用MEMS微镜装置内的电压电平的相对比较来检测开路和/或短路的发生。电路。

著录项

公开/公告号US2019273900A1

专利类型
公开/公告日2019-09-05

原文格式PDF
申请/专利权人 NORTH INC.;
展开▼

申请/专利号US201916297151
发明设计人 ERIC CHEVALLAZ;NICOLAS ABELE;
展开▼

申请日2019-03-08
分类号H04N9/31;G01R31/02;G02B26/08;H03K5/24;H03K19/21;G09G3/34;
国家 US
入库时间 2022-08-21 12:05:51

相似文献

专利
外文文献
中文文献