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INTEGRAL DEFORMATION SENSOR AND METHOD FOR MEASURING THE DEFORMATION OF A SURFACE OF A SOLID

机译:整体形变传感器和测量固体表面形变的方法

摘要

The invention relates to a deformation sensor comprising at least one sensing element (12) of which one electrical characteristic varies as a function of the deformation thereof, applied to one face, referred to as support face (14), of a film part (11). The attachment face (20) of the sensor is entirely made up of a free face of the film part. A coating (17) is rigidly and permanently attached to said support face, extending entirely opposite the attachment face, over a thickness greater than that of said film part.
机译:变形传感器技术领域本发明涉及一种变形传感器,其包括至少一个感测元件(12),该感测元件的一个电特性根据其变形而变化,该感测元件施加到膜部分(11)的一个表面(称为支撑面(14))上。 )。传感器的固定面(20)完全由胶片部分的自由面组成。涂层(17)被刚性且永久地附接到所述支撑面,其完全与附接面相对地延伸,其厚度大于所述薄膜部分的厚度。

著录项

  • 公开/公告号WO2018219683A1

    专利类型

  • 公开/公告日2018-12-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NANOLIKE;

    申请/专利号WO2018EP63015

  • 发明设计人 BEHAR SAMUEL;BOIS JEAN-JACQUES;

    申请日2018-05-17

  • 分类号G01B7/16;G01L1/22;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 11:57:53

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