形变测量系统、测量形变的方法及测量头

摘要

本发明提供了一种形变测量系统，包括双光梳光源、测距模块、测量光路固定部分、光电探测器，其中所述双光梳光源包括两个具有微小重频差的光频梳，其中第一光频梳发射出信号光用于测距，第二光频梳发射出本振光用于采样；所述测距模块接收所述双光梳光源发出的光束，并将所述信号光输出到所述测量光路固定部分，接收所述信号光从测量光路固定部分反射的回波，将所述本振光与所述反射回波耦合，输出到所述光电探测器上；所述测量光路固定部分固定在待测目标上，将所述信号光分为两路以测量测量臂和参考臂的光程差；所述光电探测器配置成接收所述测距模块输出的耦合光。