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FABRICATION METHOD FOR LOW-TEMPERATURE POLYCRYSTALLINE SILICON THIN-FILM AND TRANSISTOR

机译:低温多晶硅硅薄膜和晶体管的制备方法

摘要

Provided is a fabrication method for a low-temperature polycrystalline silicon thin-film, comprising: forming a buffer layer (32) on a substrate (31); forming a silicon layer (33) on the buffer layer (32), and forming an impurity trapping layer (34) on the silicon layer (33), wherein the impurity trapping layer (34) is porous in order to accommodate the impurities diffused from the substrate (31); and retaining the impurity trapping layer (34) on the silicon layer (33) and annealing the silicon layer (33) by means of laser illumination so as to form a polycrystalline silicon layer.
机译:本发明提供一种低温多晶硅薄膜的制造方法,包括:在基板(31)上形成缓冲层(32);以及在基板(31)上形成缓冲层(32)。在缓冲层(32)上形成硅层(33),并在硅层(33)上形成杂质捕获层(34),其中杂质捕获层(34)是多孔的,以容纳从中扩散的杂质。基板(31);将杂质捕获层(34)保留在硅层(33)上,并通过激光照射对硅层(33)进行退火以形成多晶硅层。

著录项

  • 公开/公告号WO2019085013A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-05-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HKC CORPORATION LIMITED;

    申请/专利号WO2017CN110836

  • 发明设计人 HE HUAILIANG;

    申请日2017-11-14

  • 分类号H01L21/02;H01L21/322;H01L29/786;H01L21/336;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 11:54:56

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