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Nucleation layer for growth of III-nitride structures

机译:III型氮化物结构生长的成核层

摘要

Nucleation layers for growth of III-nitride structures, and methods for growing the nucleation layers, are described herein. A semiconductor can include a silicon substrate and a nucleation layer over the silicon substrate. The nucleation layer can include silicon and deep-level dopants. The semiconductor can include a III-nitride layer formed over the nucleation layer. At least one of the silicon substrate and the nucleation layer can include ionized contaminants. In addition, a concentration of the deep-level dopants is at least as high as a concentration of the ionized contaminants.
机译:本文描述了用于生长III族氮化物结构的成核层以及用于生长成核层的方法。半导体可以包括硅衬底和在硅衬底上方的成核层。成核层可以包括硅和深能级掺杂剂。半导体可以包括在成核层上方形成的III族氮化物层。硅衬底和成核层中的至少一个可以包括离子化的污染物。另外,深能级掺杂剂的浓度至少与电离污染物的浓度一样高。

著录项

  • 公开/公告号US10580871B2

    专利类型

  • 公开/公告日2020-03-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 IQE PLC;

    申请/专利号US201815918814

  • 申请日2018-03-12

  • 分类号H01L27/146;H01L29/20;H01L21/02;H01L29/205;H01L29/207;H01L29/36;H01L29/66;H01L29/778;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 11:26:41

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