首页> 外国专利> APPARATUS AND METHODS FOR PLUG FILL DEPOSITION IN 3-D NAND APPLICATIONS

APPARATUS AND METHODS FOR PLUG FILL DEPOSITION IN 3-D NAND APPLICATIONS

机译:3-D NAND应用中的填塞沉积的装置和方法

摘要

An apparatus and a method for forming a 3-D NAND device are disclosed. The method of forming the 3-D NAND device may include forming a plug fill and a void. Advantages gained by the apparatus and method may include a lower cost, a higher throughput, little to no contamination of the device, little to no damage during etching steps, and structural integrity to ensure formation of a proper stack of oxide-nitride bilayers.
机译:公开了一种用于形成3-D NAND器件的设备和方法。形成3-D NAND器件的方法可以包括形成塞填充物和空隙。该设备和方法获得的优点可以包括较低的成本,较高的生产量,对装置的污染很小或没有污染,在蚀刻步骤中几乎没有损坏,以及结构完整性以确保形成适当的氧化物-氮化物双层堆叠。

著录项

  • 公开/公告号US2020266208A1

    专利类型

  • 公开/公告日2020-08-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ASM IP HOLDING B.V.;

    申请/专利号US202016789138

  • 发明设计人 BOKHEON KIM;DAVID KOHEN;ALEXANDROS DEMOS;

    申请日2020-02-12

  • 分类号H01L27/11582;H01L27/11556;H01L21/02;H01L21/311;H01L21/306;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 11:24:25

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号