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作物生长发育诊断方法及生长发育诊断系统

摘要

本发明提供不易受天候影响且不需进行地表面的测量·检测处理的作物生长发育诊断方法。其具备以下步骤:从作物茎叶上方的照射点开始向作物茎叶照射复数激光脉冲的步骤(S1),光接收点接收被作物茎叶或地表面反射的激光脉冲的步骤(S2),通过测量从激光脉冲的照射到接收所需的传播时间来获取包括从照射点到反射点之间距离的作物茎叶的三维点云数据的步骤(S3),根据三维点云数据算出作物茎叶的冠层位置的步骤(S4),由冠层位置和三维点云数据算出从冠层位置到反射点的激光脉冲透入深度和激光脉冲透入率的步骤(S5),和由激光脉冲透入深度和激光脉冲透入率推算植被率的步骤(S6)。

著录项

  • 公开/公告号CN102088839B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-08-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 国立大学法人长冈技术科学大学;

    申请/专利号CN201080002061.1

  • 发明设计人 高桥一义;力丸厚;

    申请日2010-03-08

  • 分类号

  • 代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人谢丽娜

  • 地址 日本新潟县

  • 入库时间 2022-08-23 09:10:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-04-27

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):A01G 7/00 授权公告日:20120808 终止日期:20150308 申请日:20100308

    专利权的终止

  • 2012-08-08

    授权

    授权

  • 2011-07-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):A01G 7/00 申请日:20100308

    实质审查的生效

  • 2011-06-08

    公开

    公开

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