公开/公告号CN102141515B
专利类型发明专利
公开/公告日2012-07-25
原文格式PDF
申请/专利权人 中国计量科学研究院;
申请/专利号CN201010599594.4
申请日2010-12-22
分类号G01N21/59(20060101);
代理机构11002 北京路浩知识产权代理有限公司;
代理人王莹
地址 100013 北京市朝阳区北三环东路18号
入库时间 2022-08-23 09:10:42
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2014-02-19
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/59 授权公告日:20120725 终止日期:20121222 申请日:20101222
专利权的终止
2012-07-25
授权
授权
2011-09-28
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/59 申请日:20101222
实质审查的生效
2011-08-03
公开
公开
机译: 测量多种待评估材料的曲面与基准材料的曲面之间的几何偏差的方法
机译: 曲面形状测量装置的核心偏差量计算方法及曲面形状测量装置
机译: 具有粘性层的透明曲面材料,显示装置,具有粘性层的透明曲面材料的制造方法以及显示装置的制造方法