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测试插座的制作方法及其所使用的弹性测试探针

摘要

本发明提供一种测试插座的制作方法及其所使用的弹性测试探针,包含:提供一非金属材质的基板;披覆至少一牺牲层在基板上;披覆至少一光阻层在牺牲层上;在光阻层进行光微影工艺以移除部分的光阻层,形成复数个柱状凸起;在前述的复数个柱状凸起的表面披覆一层表面金属层,以形成复数个弹性测试探针;提供一插座本体,其具有对应于前述的复数个弹性测试探针的复数个开口;移除牺牲层,以取下测试插座,且其已套入前述的复数个弹性测试探针;各弹性测试探针具有以光阻材料形成的弹性本体与可导电的表面。

著录项

  • 公开/公告号CN101750525B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-07-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 京元电子股份有限公司;

    申请/专利号CN200810186081.3

  • 发明设计人 赵本善;

    申请日2008-12-22

  • 分类号G01R3/00(20060101);G01R1/067(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人周长兴

  • 地址 中国台湾新竹市

  • 入库时间 2022-08-23 09:10:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-07-04

    授权

    授权

  • 2010-08-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 3/00 申请日:20081222

    实质审查的生效

  • 2010-06-23

    公开

    公开

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