测试探针以及使用该测试探针的测试插座

摘要

本发明公开一种测试探针，用于包括具有弯曲表面的桶状接触端子的物件。所述测试探针包括：第一接触构件，被配置成包括接触部分以及延伸部分，所述接触部分具有一对排列成“V”形且分别在彼此间隔开的点处与所述待测试接触端子接触的接触表面，且所述延伸部分自所述接触部分沿纵向方向向后一体延伸。因此，所述测试探针能有效地与例如用于智能电话的超小型照相机模块的待测试物件的部分弯曲桶形状接触端子接触。