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光电二极管以及使用了该光电二极管的光电IC

摘要

本发明提供一种光电二极管以及使用了该光电二极管的光电IC,其能够避免受硅半导体层与绝缘层的界面处的反射的影响,准确地检测出紫外线的总量。该光电二极管具有:形成在绝缘层上的第1硅半导体层;形成在绝缘层上的具有3nm以上、36nm以下的厚度的第2硅半导体层;形成于上述第2硅半导体层、低浓度扩散了P型和N型中任意一型杂质的低浓度扩散层;形成于第1硅半导体层、高浓度扩散了P型杂质的P型高浓度扩散层;以及隔着低浓度扩散层与该P型高浓度扩散层相对的、高浓度扩散了N型杂质的N型高浓度扩散层。

著录项

  • 公开/公告号CN101271934B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-06-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 冲电气工业株式会社;

    申请/专利号CN200810085516.5

  • 发明设计人 三浦规之;

    申请日2008-03-10

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人雒运朴

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 09:10:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-12-04

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 31/102 变更前: 变更后: 登记生效日:20131108 申请日:20080310

    专利申请权、专利权的转移

  • 2013-12-04

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 31/102 变更前: 变更后: 申请日:20080310

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2012-06-20

    授权

    授权

  • 2010-04-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 31/102 申请日:20080310

    实质审查的生效

  • 2008-09-24

    公开

    公开

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