片上系统芯片和对片上系统芯片进行测试的方法

摘要

本发明公开了一种片上系统芯片和对片上系统芯片进行测试的方法，该片上系统芯片包括：第一IO MUX，用于将来自外部测试信号发生器的测试数据传送到总线MUX上，并由总线MUX选择并驱动外设或者加速器进行测试；至少一个结果和状态模块，用于接收对外设和/或加速器的测试结果，并将测试结果发送到相应的第二IO MUX；至少一个第二IOMUX，用于将测试结果发送到外部测试数据分析器，以实现对测试结果的分析。通过上述技术方案，解决了SOC芯片不能够快速测试的问题，提高了芯片检测的正确率和效率，从而能够快速的挑选功能完好的芯片。