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机译:测试数据压缩,使用挥之不去的组件减少技术进行系统芯片应用
SASTRA Univ Sch Comp Thanjavur India;
SASTRA Univ Sch Comp Thanjavur India;
Lingering Component Reduction; Standard testing; A reference pattern Don't-care conditions; Intellectual property cores; International Symposium on Circuits and Systems'89;
机译:测试数据压缩,使用挥之不去的组件减少技术进行系统芯片应用
机译:使用计数兼容模式运行长度编码的片上系统测试数据压缩
机译:带有可重配置串行乘法器的片上系统测试数据压缩和解压缩
机译:改善单芯片系统测试数据压缩/解压缩的压缩率,面积开销和测试应用时间
机译:利用测试数据压缩技术测试延迟缺陷。
机译:独立分量分析技术在减少视网膜OCT图像斑点噪声中的应用
机译:改善单芯片系统测试数据压缩/解压缩的压缩率,面积开销和测试应用时间
机译:数字压缩与缩减技术在数字医学图像中的应用分析