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结合有光检测器阵列的灵敏度增强的差示折射计

摘要

本发明提供了一种结合有光检测器阵列的改进型差示折射计。使用多元件型光阵列为差示折射率值测量兼具测量灵敏度以及并存的测量范围提供了基础,这是迄今为止还未实现过的。在可获得的、大的动态范围内,无论在该范围内的偏转如何,该检测器结构均提供了相同的灵敏度。透射光束被修整,以在所述阵列上提供光强度的空间变化,从而提高其位移测量的精确度。这进而又会提高差示折射率以及差示折射率增量dn/dc计算的精确度。对于样品量远小于传统差示折射计所需样品量的情况而言,将所述检测器阵列并入到母案的流动单元结构中将会获得一个具有极佳灵敏度和范围的检测器。

著录项

  • 公开/公告号CN1758052B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 怀亚特技术公司;

    申请/专利号CN200510108269.2

  • 发明设计人 M·I·拉金;S·P·琴诺夫;

    申请日2005-10-08

  • 分类号G01N21/41(20060101);

  • 代理机构11245 北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人赵蓉民

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-05-30

    授权

    授权

  • 2007-12-05

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-04-12

    公开

    公开

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