法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2012-05-02
授权
授权
2010-09-22
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/00 申请日:20080626
实质审查的生效
2010-07-28
公开
公开
机译: 半导体晶圆薄胶囊的相关工艺与重结晶
机译: 晶圆抛光模板,用于在无蜡抛光工艺中抛光半导体晶圆
机译: 从晶圆保持部件中跳出的方法,晶圆中的部分裂纹的检测方法,在CMP装置中晶圆中的跳出的方法,CMP装置中晶圆中的部分裂纹的检测方法以及在晶圆中的部分跳动的检测方法脱离晶圆生产商