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半导体晶圆在薄膜包衣中的重结晶以及有关工艺

摘要

一种原始晶圆,典型地为硅,具有所希望的末端PV晶圆的形式。该原始物可以通过快速固化或者CVD来制作。其具有小的晶粒。其被密封在纯净的薄膜中,当硅重结晶以产生更大的晶粒结构时,该薄膜包含并且保护硅。包衣可以通过在存在氧气或蒸汽的情况下加热晶圆来制作,在外表面上形成二氧化硅,典型地为1-2微米。进一步加热在空间中产生熔区,该晶圆穿过该熔区,产生带有更大晶粒尺寸的重结晶。该包衣在重结晶期间包含熔化的材料并且防止杂质。重结晶可以在空气中进行。通过背衬板的热传递使应力和缺陷最小化。在重结晶之后,该包衣被去除。

著录项

  • 公开/公告号CN101790774B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 麻省理工学院;

    申请/专利号CN200880104762.9

  • 申请日2008-06-26

  • 分类号H01L21/00(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人李湘;李家麟

  • 地址 美国麻萨诸塞州

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-05-02

    授权

    授权

  • 2010-09-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/00 申请日:20080626

    实质审查的生效

  • 2010-07-28

    公开

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