首页> 中国专利> 自对准碰撞电离场效应晶体管

自对准碰撞电离场效应晶体管

摘要

以垂直地而非横向地布置在器件结构中的从栅极到源区/漏区中之一的偏移来形成碰撞电离MOSFET。该半导体器件包括:具有第一掺杂浓度的第一源/漏区;具有第二掺杂浓度并具有与第一源/漏区相反的掺杂类型的第二源/漏区,第一源/漏区与第二源/漏区被掺杂浓度小于第一掺杂浓度和第二掺杂浓度中任一个的中间区横向隔开;栅极,其与中间区电绝缘并被布置在中间区的上方,第一源/漏区和第二源/漏区与栅极横向对准;其中与中间区形成边界的第一源/漏区的整个部分与中间区的顶部在垂直方向上隔开。

著录项

  • 公开/公告号CN101542737B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-03-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NXP股份有限公司;

    申请/专利号CN200780042618.2

  • 申请日2007-11-13

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人王波波

  • 地址 荷兰艾恩德霍芬

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-05

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 29/739 授权公告日:20120321 终止日期:20181113 申请日:20071113

    专利权的终止

  • 2012-03-21

    授权

    授权

  • 2012-03-21

    授权

    授权

  • 2009-11-11

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-11-11

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-09-23

    公开

    公开

  • 2009-09-23

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号