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利用外差干涉标定空间光调制器相位调制的方法和装置

摘要

本发明公开了一种标定空间光调制器相位调制度的方法。该方法利用光外差干涉技术,来探测相位调制信息。通过声光频移器使两束相干光波的频率产生一个频差,分别作为测量光束和参考光束,再把空间光调制器有效显示区域一分为二,一部分写入的灰度值始终为0,视为参考区域;另一部分灰度值变化范围是0~255,视为测试区域。测量光束分别被参考区域和测试区域的空间光调制器所调制再与参考光发生干涉后,在干涉场用两个光电探测器分别探测参考信号和被测信号,在干涉场用两个光电探测器分别探测参考信号和被测信号,二者之间的相位差就是待测的相位调制度,由此即可建立灰度值与相位调制度之间的对应关系,从而标定空间光调制器的相位调制度。

著录项

  • 公开/公告号CN102109414B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳大学;

    申请/专利号CN201010588152.X

  • 发明设计人 田劲东;王瑞松;胡名西;李东;

    申请日2010-12-15

  • 分类号G01M11/02(20060101);G01J9/02(20060101);G02B27/10(20060101);G02F1/11(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 518060 广东省深圳市南山区南海大道3688号

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-05-02

    授权

    授权

  • 2011-08-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20101215

    实质审查的生效

  • 2011-06-29

    公开

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