利用穿透式外差干涉术量测扭曲向列相液晶盒的扭曲角、预倾角和盒厚

摘要

我们提出一个新的光学架构并配合理论模型,以量测扭曲向列相液晶盒的扭曲角、预倾角及盒厚.此光学架构主要是藉由两道彼此正交但频率略为不同的线性偏极光,通过一待测扭曲向列相液晶盒后,量测此两道光由于液晶的双折射效应所导致的相位差值.再藉由旋转扭曲向列相液晶盒所产生的相位差值的变化,并与理论上推导所得的相位差值变化相比较,而求得相关的液晶盒参数.此方法拥有共光程外差干涉术之高解析的优点,并可实时求出扭曲向列相的液晶盒参数.