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通过非晶硅X射线探测器进行电磁辐射探测的系统和方法

摘要

本发明的特定实施例提供一种探测成像系统(100)中的电磁场(160)的方法,所述方法包括:利用电磁发射器(150)发射电磁场(160),利用成像系统探测器(120,200)探测电磁场(160),以及至少部分地基于电磁场(160)从探测器(120,200)读取场图像。成像系统探测器(120,200)能够读取物体图像和场图像。探测器(120,200)可以是非晶硅平板x射线探测器。电磁发射器(150)可被用于手术导航。可以部分地基于场图像来确定手术设备、仪器和/或工具的位置。探测器(120,200)在电磁发射器(150)发射电磁场(160)时可以被协调以采集场图像。

著录项

  • 公开/公告号CN101190130B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 通用电气公司;

    申请/专利号CN200610064460.6

  • 申请日2006-11-30

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人李亚非

  • 地址 美国纽约州

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-20

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):A61B 6/00 授权公告日:20120208 终止日期:20141130 申请日:20061130

    专利权的终止

  • 2012-02-08

    授权

    授权

  • 2010-01-27

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-06-04

    公开

    公开

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