法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2012-01-11
授权
授权
2011-03-30
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/24 申请日:20100907
实质审查的生效
2011-02-16
公开
公开
机译: 基于横向扫描白光干涉仪的表面高度测量装置及方法
机译: 用于扫描探针显微镜的表面平移和倾斜测量方法,包括将干涉仪的测量光束与光学系统聚焦,并在分束后利用反射光束测量表面倾斜
机译: 使用横向扫描白光干涉仪测量表面高度的装置和方法,能够以高速测量3D信息