首页> 中国专利> 微机电系统机械组元可靠性评估的测试装置及方法

微机电系统机械组元可靠性评估的测试装置及方法

摘要

一种微机电系统机械组元可靠性评估的测试装置,包括:一光学测量单元,用于测量微机电系统机械组元的轮廓曲线,获得被测微机电系统机械组元在失效前后的三维形貌信息或动态位移信息;一环境腔室,用于放置被测微机电系统机械组元,所述各种环境条件包括真空、气压、气氛、温度和湿度;一XY工作台,环境腔室放置在XY工作台上,可跟随XY工作台在水平面内移动,环境腔室的质量低于XY工作台正常工作的载荷限制;一环境控制与测量单元,保证在环境腔室内实现所需的各种环境条件并测量相应的环境参数;一数据采集和控制单元,用于控制XY工作台,并带动环境腔室在水平面内移动;环境控制与测量单元,实现与测量各种环境条件。

著录项

  • 公开/公告号CN101813590B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-11-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN200910078562.7

  • 申请日2009-02-25

  • 分类号G01N3/38(20060101);G01B11/24(20060101);G01B11/02(20060101);G01N21/88(20060101);G01N27/00(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人汤保平

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-04-06

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 3/38 授权公告日:20111130 终止日期:20150225 申请日:20090225

    专利权的终止

  • 2011-11-30

    授权

    授权

  • 2010-10-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 3/38 申请日:20090225

    实质审查的生效

  • 2010-08-25

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号