公开/公告号CN101813590B
专利类型发明专利
公开/公告日2011-11-30
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;
申请/专利号CN200910078562.7
申请日2009-02-25
分类号G01N3/38(20060101);G01B11/24(20060101);G01B11/02(20060101);G01N21/88(20060101);G01N27/00(20060101);
代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;
代理人汤保平
地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号
入库时间 2022-08-23 09:08:31
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-04-06
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 3/38 授权公告日:20111130 终止日期:20150225 申请日:20090225
专利权的终止
2011-11-30
授权
授权
2010-10-13
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 3/38 申请日:20090225
实质审查的生效
2010-08-25
公开
公开
机译: 可靠性评估测试装置,可靠性评估测试系统,接触器以及可靠性评估测试方法
机译: 可靠性评估测试装置,可靠性评估测试系统,接触器以及可靠性评估测试方法
机译: 可靠性评估测试装置,可靠性评估测试系统,接触器以及可靠性评估测试方法