公开/公告号CN101351746B
专利类型发明专利
公开/公告日2011-11-23
原文格式PDF
申请/专利权人 ASML控股股份有限公司;ASML荷兰有限公司;
申请/专利号CN200680049663.6
申请日2006-12-05
分类号
代理机构中科专利商标代理有限责任公司;
代理人王文生
地址 荷兰维德霍温
入库时间 2022-08-23 09:08:25
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2011-11-23
授权
授权
2009-03-11
实质审查的生效
实质审查的生效
2009-01-21
公开
公开
机译: 干涉仪光刻系统及其用于在干涉光束相等的情况下形成路径长度的方法
机译: 使它工作的光谱仪器和方法,包括干涉仪,该干涉仪具有分束器,以将入射的光辐射分成反射光束和透射光束。沿第一传播路径对光学辐射设备Erometro的来源的引用。
机译: 用于物体扫描的干涉传感器具有分束器系统,该分束器系统配置为带有分束器层系统的三角形干涉仪