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干涉仪系统、确定干涉仪系统的激光源的跳模的方法、确定可移动物体的位置的方法、和光刻设备

摘要

本发明提供一种干涉仪系统,所述干涉仪系统用于确定可移动物体的位置,所述干涉仪系统包括:激光源,所述激光源用于提供辐射束;光学系统,所述光学系统被布置成将所述辐射束拆分成沿第一光学路径的第一束和沿第二光学路径的第二束,其中所述光学系统被布置成将所述第一束与所述第二束重新组合成重新组合束;检测器,所述检测器用于接收所述重新组合束并且基于所接收的重新组合束来提供检测器信号;以及处理单元,其中所述第一光学路径的第一光程长度与所述第二光学路径的第二光程长度具有光程长度差,其中所述处理单元被布置成基于所述检测器信号中的相移来确定所述激光源的跳模。

著录项

  • 公开/公告号CN113994266A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ASML荷兰有限公司;

    申请/专利号CN202080043037.6

  • 申请日2020-05-11

  • 分类号G03F9/00(20060101);G03F7/20(20060101);G01B9/02(20220101);G01J9/02(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人王益

  • 地址 荷兰维德霍温

  • 入库时间 2023-06-19 14:01:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 9/00 专利申请号:2020800430376 申请日:20200511

    实质审查的生效

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