测试电路及其增加芯片电路扫描覆盖率的方法

摘要

本发明提供一种测试电路及其增加芯片电路扫描覆盖率的方法。该方法包括，辨别该受测试电路的一覆盖率是否低于一界限值；当该覆盖率低于一界限值时，分析所述的受测试电路以决定至少一个该受测试电路的插入点；以一测试电路插入所述的受测试电路的所述的插入点，其中该受测试电路因该测试电路插入而使该受测试电路包含位于该插入点之前的一第一电路以及位于该插入点之后的一第二电路；以及输入一自动测试向量至所述的测试电路及所述的受测试电路，以进行对该受测试电路进行扫描。