公开/公告号CN101663574B
专利类型发明专利
公开/公告日2011-09-28
原文格式PDF
申请/专利权人 康宁股份有限公司;
申请/专利号CN200880013089.8
申请日2008-02-13
分类号
代理机构上海专利商标事务所有限公司;
代理人项丹
地址 美国纽约州
入库时间 2022-08-23 09:08:04
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2011-09-28
授权
授权
2010-05-05
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/00 申请日:20080213
实质审查的生效
2010-03-03
公开
公开
机译: 透明基板中缺陷的量化方法
机译: 半透明材料制成的半透明物品的检查方法,玻璃基板的缺陷,玻璃基板的坯料的缺陷的检查方法及装置,制造方法,制造方法,制造方法,制造方法,制造方法,制造方法半导体器件
机译: 用于在钞票的透明区域中形成的透明聚合物基板的检查方法,包括如果穿过聚合物基板的区域的紫外线的透射率超过预设值,则确定聚合物基板有缺陷。