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低功耗高稳定性的相变存储单元及制备方法

摘要

本发明提供的一种低功耗高稳定性的相变存储单元,包括基底层、相变材料区、电极以及将所述相变材料区全部包裹的介质材料包覆层,且所述介质材料包覆层的材料为不与所述相变材料发生反应的材料,相变材料区的相变材料可为纯相变材料,也可为相变材料和介质材料构成的掺杂材料,或者为相变材料和介质材料构成的复合材料等。本发明还提供了制备低功耗高稳定性的相变存储单元的方法,所形成的相变存储单元可以有效抑制相变材料中各元素的扩散和挥发,有利于材料性能的稳定,同时抑制了相变材料晶粒的长大,提升了材料的电阻率,降低了器件功耗。

著录项

  • 公开/公告号CN101752497B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-10-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200910201171.X

  • 发明设计人 宋志棠;宋三年;

    申请日2009-12-15

  • 分类号H01L45/00(20060101);G11C11/56(20060101);

  • 代理机构31219 上海光华专利事务所;

  • 代理人余明伟;冯珺

  • 地址 200050 上海市长宁区长宁路865号

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-10-26

    授权

    授权

  • 2010-08-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 45/00 申请日:20091215

    实质审查的生效

  • 2010-06-23

    公开

    公开

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