首页> 中国专利> P型半导体氧化锌薄膜,其制备方法,和使用透明基片的脉冲激光沉积方法

P型半导体氧化锌薄膜,其制备方法,和使用透明基片的脉冲激光沉积方法

摘要

披露了p型半导体氧化锌(ZnO)薄膜和制备所述薄膜的方法。所述薄膜是用磷(P)和锂(Li)共掺杂的。披露了用于生成所述薄膜的脉冲激光沉积方法。还披露了使用透明基片的脉冲激光沉积方法,它包括脉冲激光源,在脉冲激光波长下透明的基片,以及多靶系统。脉冲激光的光程是这样设置的,使得脉冲激光从基片的背面入射,穿过基片,然后聚焦在靶上。通过向着靶平移基片,这种几何设置能够利用烧蚀羽流的根部沉积小结构,它在通过三维绝热膨胀加宽羽流的角宽度前,可以沿靶表面法线存在于一维过渡阶段。这可以提供小的沉积结构尺寸,该尺寸可以类似于激光焦斑的尺寸,并且提供一种用于直接沉积图案化材料的新方法。

著录项

  • 公开/公告号CN101058867B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-09-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 IMRA美国公司;

    申请/专利号CN200710086483.1

  • 发明设计人 刘冰;胡振东;车勇;上原譲;

    申请日2007-03-13

  • 分类号C23C14/08(20060101);C23C14/22(20060101);C23C14/58(20060101);C23C14/54(20060101);C23C14/28(20060101);C03C17/00(20060101);

  • 代理机构11275 北京同恒源知识产权代理有限公司;

  • 代理人王维绮

  • 地址 美国密歇根州

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-05-04

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):C23C 14/08 授权公告日:20110921 终止日期:20150313 申请日:20070313

    专利权的终止

  • 2011-09-21

    授权

    授权

  • 2007-12-19

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-10-24

    公开

    公开

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