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基于高电子迁移率晶体管HEMT的微加速度计

摘要

本发明涉及微加速度计领域,具体是一种基于高电子迁移率晶体管HEMT的微加速度计。适应了微加速度计应用领域对高灵敏度微加速度计的需要,实现高电子迁移率晶体管HEMT力电转换机理在微加速度计上的应用,所述微加速度计采用以下步骤加工制造:1、应用分子束外延技术在GaAs衬底上生长出如下表1所示材料层结构的薄膜;2、应用微机电器件加工技术在薄膜上加工高电子迁移率晶体管HEMT;3、应用微机电器件加工技术加工微加速度计结构。有效利用高电子迁移率晶体管HEMT的力电转换机理,实现了高电子迁移率晶体管HEMT在微加速度计上的应用,灵敏度高、线性度好,完全可以适应微加速度计应用领域的实际需要。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-01-29

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01P 15/08 授权公告日:20110907 终止日期:20121127 申请日:20091127

    专利权的终止

  • 2011-09-07

    授权

    授权

  • 2011-08-03

    著录事项变更 IPC(主分类):G01P 15/08 变更前: 变更后: 申请日:20091127

    著录事项变更

  • 2011-07-13

    著录事项变更 IPC(主分类):G01P 15/08 变更前: 变更后: 申请日:20091127

    著录事项变更

  • 2010-07-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01P 15/08 申请日:20091127

    实质审查的生效

  • 2010-06-02

    公开

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