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薄膜植入法用正型抗蚀剂组合物和抗蚀剂图案形成方法

摘要

本发明涉及一种薄膜植入法用正型抗蚀剂组合物,其特征在于该薄膜植入法用正型抗蚀剂组合物包含:具有酸解离性溶解抑制基团且通过酸的作用碱溶解性增加的树脂成分(A)、通过照射放射线产生酸的酸产生剂成分(B)和具有放射线吸收能力的化合物(C),其中,所述树脂成分(A)具有由羟基苯乙烯衍生的结构单元(a1)和所述结构单元(a1)的羟基的氢原子被酸解离性溶解抑制基团取代的结构单元(a2),所述酸解离性溶解抑制基团含有下述通式(II)表示的酸解离性溶解抑制基团(II)为主要成分。

著录项

  • 公开/公告号CN101198906B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-08-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东京应化工业株式会社;

    申请/专利号CN200680003206.3

  • 申请日2006-02-01

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人朱丹

  • 地址 日本神奈川县

  • 入库时间 2022-08-23 09:07:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-08-24

    授权

    授权

  • 2008-08-06

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-06-11

    公开

    公开

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