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公开/公告号CN101496138B
专利类型发明专利
公开/公告日2011-03-16
原文格式PDF
申请/专利权人 国际商业机器公司;
申请/专利号CN200780028236.4
发明设计人 H·B·波格;虞蓉卿;
申请日2007-07-24
分类号
代理机构北京市中咨律师事务所;
代理人于静
地址 美国纽约
入库时间 2022-08-23 09:06:24
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2011-03-16
授权
2009-09-23
实质审查的生效
2009-07-29
公开
机译: 金属填充的通孔穿透结构,用于在垂直型晶圆之间提供互连
机译: 金属填充通孔结构,用于提供垂直的晶圆间互连
机译:用于MEMS封装的高密度,长宽比高的晶片互连互连通孔
机译:用于大功率集成电子产品的电镀金属埋入互连和晶圆通孔金属填充通孔技术
机译:晶片清洁对互连结构及其在Al双镶嵌过程中的互连结构的电气性能,用于制造Sub-100nm存储器件
机译:垂直晶片级封装,使用通过剥离聚合物方法通过互连线填充的通孔填充,用于MEMS和3D堆叠应用
机译:切角对晶片键合串联太阳能电池直接晶片键合的n-砷化镓/ n-砷化镓结构电导率的影响
机译:用于微波和毫米波应用的超薄熔融石英晶片中通孔的制作
机译:通过金属有机化学气相沉积用n-alGaN填充通孔,在n + si衬底上的alN缓冲层中形成导电自发通孔,并应用于垂直深紫外光传感器
机译:从Gaas-on-si晶片选择性等离子蚀刻si用于微波通孔形成