首页> 中国专利> 碳化硅单晶表面多级化学机械抛光方法

碳化硅单晶表面多级化学机械抛光方法

摘要

本发明涉及碳化硅单晶表面多级化学机械抛光方法,属于晶体材料加工技术领域。本发明对碳化硅单晶采用多级化学机械抛光、调控不同pH值、抛光压力及转速,使得在保持低翘曲,低弯曲,高平整度,厚度均匀性好的前提条件下,有效地降低了晶片的表面损伤,改善了晶片表面粗糙度水平。

著录项

  • 公开/公告号CN101602185B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-04-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海硅酸盐研究所;

    申请/专利号CN200910053571.0

  • 发明设计人 储耀卿;陈之战;施尔畏;

    申请日2009-06-22

  • 分类号B24B29/02(20060101);C09G1/02(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 200050 上海市定西路1295号

  • 入库时间 2022-08-23 09:06:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-08-08

    专利权的转移 IPC(主分类):B24B 29/02 变更前: 变更后:

    专利申请权、专利权的转移

  • 2011-04-06

    授权

    授权

  • 2010-02-24

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-12-16

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号