用于试样结构的空间高分辨率成像的方法和荧光显微镜

摘要

为了使感兴趣的试样结构以空间高分辨率成像而实施以下步骤：选择利用转换信号能够重复地由具有第一光学特性的第一状态转换至具有第二光学特性的第二状态并且能够由第二状态返回第一状态的物质；用物质标记感兴趣的试样结构；用转换信号将变化比例的物质转换至第二状态；在传感器阵列上使试样成像，其中成像的空间分辨率极限大于试样中物质的紧邻分子之间的平均距离；及利用传感器阵列记录由第二状态的物质的各个部分发出的光学测量信号；其特征在于，在转换一部分物质至第二状态时调节转换信号的强度，从而使至少10％的物质各自转换至第二状态的分子与其紧邻的第二状态的分子的距离大于传感器阵列上试样成像的空间分辨率极限。