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在硅衬底上生长的氮化镓薄膜结构及其生长方法

摘要

本发明公开了一种在硅衬底上生长氮化镓薄膜的方法,包括如下步骤:选择硅衬底;采用金属有机物汽相外延方法,在硅衬底上生长一层铝;在硅衬底上生长铝后生长一层氮化铝成核层;在该氮化铝成核层上生长铝和氮化铝的超晶格;在铝和氮化铝的超晶格上生长四层氮化镓层;在氮化镓生长过程中,降低温度,插入三层氮化铝层;最后改变生长室气压,生长一层氮化镓层。利用本发明,通过控制生长条件,如温度、压力以及生长氮化镓的缓冲层结构设计方面的改进,在硅衬底上外延生长出了氮化镓薄膜。

著录项

  • 公开/公告号CN101515543B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-08-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN200810057890.4

  • 申请日2008-02-20

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人周国城

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-08-25

    授权

    授权

  • 2009-10-21

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-08-26

    公开

    公开

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