探针型检测仪，使用这种检测仪的IC检测方法以及IC

摘要

一种探针型检测仪和采用这种检测仪检测IC的方法，其中在对IC作最后的电特性测试时，在引线与向导电棒之间不会产生接触不良，引线间也不会发生短路。该探针型检测仪包括一个测量组件，用于进行IC的电特性测试；一个操作板，以可互换方式与测量组件电连接，以便根据被测IC的类型选择操作板的类型；一个探卡，其上具有与操作板连接的探针；一个压制机构，以使探针线性部分的端部可顶压在靠近IC封装上的从IC封装中伸出的引线上。