探针型检测仪,使用这种检测仪的集成电路检测方法以及集成电路

摘要

本发明提供了一种集成电路,其上具有许多涂覆有焊料层的引线,这些引线是从集成电路封装的侧面伸出来的,并平行于集成电路的上表面的平面线性延伸,然后向下弯曲,并且每一条所说的引线在其底部线性延伸部分的焊料涂层上,通过接触或类似的方法形成有一个凹部。