一种面向TTL集成电路的小型检测仪设计

摘要

本文基于MCS51单片机,构建了一种面向TTL集成短路芯片的小型检测仪。该检测仪能快速、准确地对TTL系列数字逻辑芯片的逻辑功能进行检测,从而判断芯片的好坏和型号。该检测仪的使用,能减少了测试时间,提高了检测效率,降低了劳动强度。该检测仪具有良好的移植和扩展性。