首页> 中国专利> 用于CMOS图像传感器电性能的测试系统

用于CMOS图像传感器电性能的测试系统

摘要

本发明提供了一种用于CMOS图像传感器电性能的测试系统,其中所述系统包括信号源、控制单元、检测单元和数据处理器,信号源用于向待测传感器提供输入信号并且提供基准信号;检测单元用于检测待测传感器的输出信号并且向控制单元提供检测到的待测传感器的输出信号;控制单元用于调节信号源的输出信号、启动和终止检测单元对待测传感器的测试以及将检测单元提供的检测到的待测传感器的输出信号提供给数据处理器;以及数据处理器用于根据控制单元提供的检测到的待测传感器的输出信号判断待测传感器的电性能。采用本发明的系统能够在很大程度上节约测试成本。

著录项

  • 公开/公告号CN101360254B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-06-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 比亚迪股份有限公司;

    申请/专利号CN200710130071.3

  • 发明设计人 黄林;朱若虹;

    申请日2007-07-30

  • 分类号

  • 代理机构北京润平知识产权代理有限公司;

  • 代理人王凤桐

  • 地址 518119 广东省深圳市龙岗区葵涌镇延安路比亚迪工业园

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-17

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H04N 17/00 授权公告日:20100616 终止日期:20170730 申请日:20070730

    专利权的终止

  • 2010-06-16

    授权

    授权

  • 2010-06-16

    授权

    授权

  • 2009-05-20

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-05-20

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-02-04

    公开

    公开

  • 2009-02-04

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号