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一种用于CMOS图像传感器集成ADC的性能测试系统

     

摘要

在CMOS图像传感器中,A/D起着“承上启下”的作用,承接前端传来的信号,转换成数字后输出,其性能指标直接影响着整个系统的优劣.随着ADC速度和精度的提高,如何高效、准确地测试其动态和静态参数是ADC测试研究的重点.文中阐述了ADC的参数及其测试的原理和方法,并基于Labview软件和数据采集卡构建了ADC的软硬件测试平台,实现了低成本、高可靠性的高精度ADC计算机辅助测试系统.

著录项

  • 来源
    《电子设计工程》|2013年第22期|191-193|共3页
  • 作者

    徐星; 陈世军;

  • 作者单位

    中国科学院红外成像材料与器件重点实验室中国科学院上海技术物理研究所,上海200083;

    中国科学院红外成像材料与器件重点实验室中国科学院上海技术物理研究所,上海200083;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TN792;
  • 关键词

    ADC; 直方图; FFT; Labview; 测试;

  • 入库时间 2022-08-18 02:58:35

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