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一种单次超短脉冲时空耦合测量方法、系统、设备、介质

摘要

本发明公开了一种单次超短脉冲时空耦合测量方法、系统、设备、介质,系统包括:超短脉冲产生模块,所述超短脉冲产生模块出射超短啁啾脉冲,超短啁啾脉冲经空间调制模块调制后转变为待测超短脉冲;待测超短脉冲经编码板调制、条纹相机偏转后得到衍射光斑强度矩阵;还包括:同步控制模块,用于控制超短脉冲产生模块与条纹相机的时间同步,使条纹相机同步记录偏转后的衍射光斑强度矩阵分布;储存及计算模块,用于储存条纹相机记录的衍射光斑强度矩阵,并且计算待测超短脉冲的复振幅分布。本发明不需要非线性效应,适用于单次曝光测量超短脉冲的时空耦合,可用于大口径宽光谱的超短脉冲的时空相位测量,具备光路简单、性能稳定、高时空分辨的特点。

著录项

  • 公开/公告号CN117968866B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2024.07.26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 之江实验室;

    申请/专利号CN202410364189.6

  • 发明设计人

    申请日2024.03.28

  • 分类号G01J11/00;

  • 代理机构杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人邱启旺

  • 地址 311121 浙江省杭州市余杭区中泰街道科创大道之江实验室

  • 入库时间 2024-09-23 22:31:24

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