法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2014-11-26
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01M 11/02 授权公告日:20100609 终止日期:20130928 申请日:20080928
专利权的终止
2010-06-09
授权
授权
2009-04-08
实质审查的生效
实质审查的生效
2009-02-11
公开
公开
机译: 同时测量单层和多层膜的光学常数和厚度的无损光学技术
机译: 同时测量单层和多层膜的光学常数和厚度的无损光学技术
机译: 一种挠性连续管状结构的生产方法,包括结合的单层薄板厚度测厚仪和根据该程序制成的挠性管状结构。