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一种具有显微扩散阻挡层的铜/硅封装材料及其制备方法

摘要

一种具有显微扩散阻挡层的铜/硅电子封装材料及其制备方法,该封装材料的硅颗粒表面是由1nm-10μm厚度氧化铝、氮化铝或二者复合构成的扩散阻挡层薄膜,铜组元构成连续基体组织;本发明的方法为首先在硅粉表面涂覆氧化铝薄膜或其前驱体,然后将涂覆后的硅粉在真空、还原气氛或(与碳粉混合后)在氮气中焙烧,表面处理后的硅粉与铜粉经混粉、烧结等工艺获得致密化材料;本发明在铜、硅粉末表面镀覆氧化铝/氮化铝扩散阻挡层薄膜,用扩散阻挡层阻隔铜、硅二组元在高温烧结时的相互扩散和界面反应,从而通过高温烧结得到铜/硅封装材料。

著录项

  • 公开/公告号CN100576519C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-12-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安交通大学;

    申请/专利号CN200810151044.9

  • 发明设计人 王亚平;蔡辉;宋晓平;丁秉钧;

    申请日2008-09-22

  • 分类号H01L23/29(20060101);B22F3/16(20060101);C09K3/10(20060101);

  • 代理机构61215 西安智大知识产权代理事务所;

  • 代理人弋才富

  • 地址 710049 陕西省西安市咸宁路28号

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-11-13

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 23/29 授权公告日:20091230 终止日期:20120922 申请日:20080922

    专利权的终止

  • 2009-12-30

    授权

    授权

  • 2009-03-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-01-28

    公开

    公开

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